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LA系列实验室分析天平提供零缺陷精密测量，即使是应用在复杂的测量过程

  • 作者：不详
  • 供稿：德国赛多利斯集团
  • 阅读人次：
  • 发布时间：2009-12-06
永不满足的天平LA 系列实验室分析天平提供零缺陷精密测量，即使是应用在复杂的测量过程。拥有坚固外壳和超级单体传感器十分有利于抵抗外界干扰。高等级不锈钢制作的秤盘和称量室抵抗化学腐蚀易于清洗。键盘的软盖也是由高度耐腐蚀材料制成所以富有弹性。LA系列显示技术结合接口确保在周围环境中安装使用更加稳定，例如有效减少来自显示器内部防风舱产生的热辐射。内置标准应用程序包，不仅满足使用者日常需要也可应用于不常用的实验室项目。此类应用例子取决于微小物质测量根据美国药典，也可能取决于持续测量不确定的物质根据德国DKD。LA系列界面有非常友好的控制键，清晰的接口有多种语言选择还有方便阅读的显示屏。提供额外的型号，31种型号测量精度达0.1mg，量程达64KG。可以建立远程控制显示屏和控制单元，赋予使用者更多灵活性。

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【文章来自米尔自动化网】http://www.mirautomation.com/html/news/2007-08-24/nu0000319562.shtml
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