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KEYENCE-基恩士激光位移传感器LK

KEYENCE-基恩士激光位移传感器LK产品简介:? 直线性达到F.S.之±0.1%(所有型式)
? 长测量距离达到750mm(LK长距离系列)*
? 测量不受色彩、表面材质或离散光线所影响

高精确CCD激光位移传感器
 
•  直线性达到F.S.之±0.1%(所有型式)
•  长测量距离达到750mm(LK长距离系列)*
•  测量不受色彩、表面材质或离散光线所影响
 
LK是一种激光位移传感器,拥有1-μm的分辨率和30微米直径的光束点。它的主要特色有Keyence特制CCD和LFTC测量专利技术。

产品特点:

超长距离CCD激光位移传感器
先进的激光三角测量系统
 
750mm的无可匹敌之最大范围(LK长距离系列)
 
在长距离模式下,500mm±250mm之测量范围使其几乎可满足任何应用需求。

稳定地测量各种不同目标物体的表面
专利审查中的LFTC电路能测量多种色彩或式样的目标。无需另外调节即可测量黑色橡胶等低反射率的目标。
 
感测头为IP-67之等级
即使是在制造工序等严苛环境下,亦可获得精确的测量结果。
 
CCD激光位移传感器使用三角形测量系统。
 
以前的激光位移传感器利用PSD(位敏器)作为接收光线的元件。而LK系列利用CCD作为接收光线的元件。目标物体反射的光线穿过接收器的透镜,接收器的透镜将光线聚焦在PSD或CCD上。PSD型传感器利用PSD上的所有射束光点之光量分布来决定射束光点的中心,并由此判定目标位置。但是,光量分布会受目标物体的表面状况影响,造成测量值的变动。CCD检测射束光点之光量分布峰值处的像素,并将此判定为目标位置。所以,无论射束光点之光量如何分布,CCD均能获得稳定且高精度的结果。 

高精确CCD激光位移传感器
独特的光学系统减少透镜的像差

高精度测量
LK系列利用最新开发的CCD作为接收光线的元件,并用32位之超高速RISC处理器进行信号处理,不论目标物体表面性质如何,均可提供高精度测量。利用LK-031能获得F.S.之±0.1%的1μm直线性之析像度。
 
30μm直径的可见激光射束光点
KEYENCE之独特光学系统使透镜的像差达到最小,从而使LK-031具有30μm直径之最小点直径。利用此特点可精确地测量目标物体的表面轮廓。

带有宽大光束光点的新光学系统(LK-036/LK-086) 新型

通过均分由工件粗糙面的微小投影造成的漫散反射光来防止数据波动。可保证在带有毛口及细微畸变等的表面上进行可靠的测量。
利用镜面模式,可以测量镜面物体和透明物体。

稳定地测量各种不同目标物体的表面
专利审查中的LFTC电路能测量多种色彩或式样的目标。无需另外调节即可测量黑色橡胶等低反射率的目标。
 
感测头为IP-67之等级
即使是在制造工序等严苛环境下,亦可获得精确的测量结果。
 
CCD激光位移传感器使用三角形测量系统。
 
以前的激光位移传感器利用PSD(位敏器)作为接收光线的元件。而LK系列利用CCD作为接收光线的元件。目标物体反射的光线穿过接收器的透镜,接收器的透镜将光线聚焦在PSD或CCD上。PSD型传感器利用PSD上的所有射束光点之光量分布来决定射束光点的中心,并由此判定目标位置。但是,光量分布会受目标物体的表面状况影响,造成测量值的变动。CCD检测射束光点之光量分布峰值处的像素,并将此判定为目标位置。所以,无论射束光点之光量如何分布,CCD均能获得稳定且高精度的结果。

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【文章来自米尔自动化网http://www.mirautomation.com/html/product/2009-05-23/p0001686570.shtml
本文标签: KEYENCE-基恩士   激光位移传感器   LK  
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