泛华参加国防电子展众多新品展现技术实力

作者：不详
供稿：北京中科泛华测控技术有限公司
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发布时间：2012-05-24

近日，第八届中国国际国防电子展览会在京顺利举行，致力于为各行业用户提供专业测试测量解决方案和成套检测设备的北京泛华恒兴科技有限公司携众多应用于国防军工领域的新品参加了此次盛会。

较之于往年的参展，泛华今年带来了更多自主研发的货架产品。“许多老客户会发现，泛华展位的展品一年比一年多，而且几乎都是新产品，这些产品都是泛华近一年推出的新品。我们在努力服务好国防军工领域的同时，也在尝试探索走为客户提供更多货架产品的道路，这也是未来泛华在国防军工方面的发展方向之一。”泛华相关工作人员介绍道。

展会现场，综合电子装备保障平台、便携式数据记录仪、PXI测试仿真与测控系统、PanSaTex测控数传一体化测控等系统纷纷亮相。PanSaTex是一款主要用于航空航天测控的专业仪器，汇集了对卫星以及无人机的遥测、遥控、测距等多种功能，此前这种设备一直被国外垄断，PanSaTex的问世打破了这种垄断的壁垒，甚至在某些技术参数上更优于国外的设备。同时，综合电子装备保障平台有效地解决了测试装备智能化、测试网络化、并行测试、测试装备集成化的难题，这也正是目前我国国防军工测试中面临的4大挑战，在行业内具有先进性。

同期，泛华总经理高向东先生还参加了第五届国际测试与仪器应用论坛（ITMAF2012），为与会观众带去了关于军工测试系统的挑战与应用之道的演讲，为自动化测试系统的维护和诊断提供了专业的意见和建议，引起了与会者的广泛关注。