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NI PXI矢量网络分析仪,帮助半导体和移动设备制造商降低测试成本


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新闻要点

•NI矢量网络分析仪(VNA)凭借其快速自动化测量、功能强大的仪器结构和经简化的测试系统开发过程,可降低测试成本。

•新的NI PXI Express模块集成了高级矢量网络分析仪的测量功能,形成基于PXI的测试系统,其中包括了高精度直流、高速模拟和数字测量等应用

新闻发布 

“NI在射频和微波仪器上持续大力投入,将PXI的应用领域扩大至高端应用。”NI射频研究和开发副总裁Jin Bains表示, “NI PXIe-5632矢量网络分析仪功能丰富,可显着降低网络测量成本,尤其是针对那些需要高度精确、快速和小封装测量的大批量自动化测试的应用。”

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产品特征

•双端口,3槽PXI Express矢量网络分析仪,频率范围为300 kHz至8.5 GHz 。

•功率范围较宽,为-30dBm到+15 dBm,调节步长为0.01dB,用于测量有源设备的压缩和S-参数。

•带有源接入循环的双源架构,可实现脉冲S参数测量和扩展源功率范围。

•频偏功能使用独立调整的源代码,实现对频率转换器件和热S-参数的测量。

•通过NI LabVIEW、ANSI C和.NET等行业领先的编程接口,可简化编程并加快测试开发速度,同时保证射频测量质量。

欲知更多,请访问http://www.ni.com/vna/zhs/。

关于NI

从1976年开始,美国国家仪器(www.ni.com)就为工程师和科学家提供各种工具来加速生产、创新和探索。NI的图形化系统设计方法为工程界提供了一个将软硬件结合在一起的平台,有助于加速测量和控制系统的开发过程。公司的长期愿景和通过技术提高社会发展水平的理念为客户、员工、供应商和股东的成功提供支持。

【文章来自米尔自动化网http://www.mirautomation.com/pages/2012-12/np8321.shtml
本文标签: NI   矢量网络分析仪  
 三菱电机

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